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氣體法真密度分析儀是先進(jìn)的檢測(cè)材料骨架體積和真實(shí)密度的儀器，能測(cè)試排液法無法測(cè)定的固體材料。它是理想氣態(tài)方程的應(yīng)用，采用惰性氣體標(biāo)定體積，具有不污染不破壞樣品的優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)具備更高的測(cè)試精度和穩(wěn)定性。㈠真密度的定義真密度（TrueDensity）指材料在密實(shí)狀態(tài)下的實(shí)際密度，不包括內(nèi)部、外部空隙的實(shí)際體積下測(cè)得的密度。㈡應(yīng)用范圍粉體、顆粒、多孔材料、漿狀物質(zhì)、不易揮發(fā)性液體的真實(shí)密度測(cè)定；聚氨酯泡沫的開閉孔率測(cè)試。㈢測(cè)試原理（波馬定律）理想氣態(tài)方程pv=nrt在恒溫條件的下應(yīng)用...

首先：客戶問濕法好還是干法好，這個(gè)不是哪個(gè)好。是實(shí)用范圍導(dǎo)致分濕法，干法激光粒度分析儀如果您待測(cè)樣品在水或者有機(jī)溶劑會(huì)發(fā)生物理或者化學(xué)反應(yīng)。那么建議使用干法激光粒度分析儀、干法激光粒度分析儀是用空氣為分散介質(zhì)。只要用一定的壓力空氣速分散即可測(cè)試。First：Customersask"wetmethod"or"dry",whichisnotgood?.Ispracticalrangeleadingtowet,drylaserparticlesizeanalyzer,ifyoua...

Zeta電位是納米材料的一種重要表征參數(shù)。很多微納米產(chǎn)品都需要表征其穩(wěn)定性，粒度大小、zeta電位、ph值、溫度、產(chǎn)品配方等會(huì)影響樣品穩(wěn)定性，而zeta電位是樣品穩(wěn)定性比較直觀的一個(gè)參數(shù)?，F(xiàn)代儀器可以通過簡(jiǎn)便的手段快速準(zhǔn)確地測(cè)得。HL8001系列zeta電位分析儀常見的幾種測(cè)試電位方法：1.電泳光散射法：常見的測(cè)試zeta電位的方法是利用光學(xué)法，也就是電泳光散射法，由于此方法可以和動(dòng)態(tài)光散射法相結(jié)合，隨著納米粒度及zeta電位儀的市場(chǎng)擴(kuò)大，而這種方法被廣大客戶接受。此方法的特...

納米激光粒度儀利用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)速度來測(cè)量粒度。小粒子的布朗運(yùn)動(dòng)快，大粒子的布朗運(yùn)動(dòng)慢。當(dāng)這些粒子受到激光照射時(shí)，散射光會(huì)以不同的速度波動(dòng)。光子相關(guān)光譜根據(jù)光子在特定方向的波動(dòng)來分析粒徑。它是記錄粒度的理想工具。通過使用新的粒度損失分析器功能和的自動(dòng)趨勢(shì)分析，您可以快速找到不同時(shí)間的變化。日常儲(chǔ)存和使用中的注意事項(xiàng)如下：1、納米激光粒度儀測(cè)量單元連續(xù)開機(jī)時(shí)間不超過5小時(shí)；2、測(cè)量一個(gè)樣品時(shí)，必須取下樣品漏斗，讓儀器自動(dòng)執(zhí)行清倉程序...

比表面積及孔徑分析儀選用靜態(tài)數(shù)據(jù)容積法**測(cè)量原理，為完成性能**與高通量測(cè)序，選用了與眾不同的模塊化設(shè)計(jì)系統(tǒng)軟件。儀器設(shè)備配置六個(gè)工作平臺(tái)，可單獨(dú)或與此同時(shí)實(shí)際操作，完成對(duì)粉末狀、顆粒物、化學(xué)纖維及片狀材料的比表面積、孔隙率、孔容及直徑等性能**高通量測(cè)序剖析。機(jī)器設(shè)備適用電池正負(fù)極原材料，木薯淀粉等藥品輔材，碳黑、白炭黑、鈦白粉等多孔結(jié)構(gòu)粉體設(shè)備，三氧化二鋁、碳分子篩等催化反應(yīng)原材料，活性碳、沸石等吸附原材料。一、比表面積及孔徑分析儀檢測(cè)原理：在超低溫（如：石蠟浴，77....